【NIWeek 2011】RFテスト強化の姿勢を鮮明に、26.5GHz対応VSAやLTE Advancedのデモも：テスト/計測（3/3 ページ）

National Instrumentsが、「高周波（RF）テスト」の製品強化を続けている。「NIWeek 2011」の基調講演で、National Instrumentsがとりわけ多くの時間を割いたのが、RFテスト分野の製品紹介やデモだった。

[前川慎光，EE Times Japan]

8×8 MIMOのLTE Advancedシステムを評価

　この他、同社のRFテスト製品群を設計/試作工程に展開した事例として、ST-Ericssonが同社のスマートフォン向けRFトランシーバICのファーストシリコンの評価に、National InstrumentsのPXIシステムを採用したという紹介があった。

　基調講演では、現在研究開発が進められている次世代の無線通信規格「LTE Advanced」の通信システムを評価するデモもあった（図7）。このデモは、LTE Advancedに準拠したベースバンド処理のアルゴリズムを開発する技術者を意識したものだという。8×8 MIMOに対応した無線通信システムを同社の計測/制御ハードウェアを使って構築し、実際に無線を飛ばして通信状況を評価していた。「一般に販売している汎用品を使ったLTE Advancedの試験は、業界初だ」（同社）と主張する（LTE Advancedについての関連記事）。

図7　8×8 MIMOのLTE Advancedシステムを評価した。左の写真は送信側、右の写真は受信側の構成。

図7　左の写真は評価した8×8 MIMOのLTE Advancedシステムの全体構成。右の写真は評価した結果。5.8GHz帯を使い、1Gビット/秒程度のデータ伝送速度が得られることを確認した。LTE Advancedのベースバンド処理アルゴリズムの開発者に向けたデモである。