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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

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ニュース
計測/検査装置
パワエレ高度化に対応：

高周波電力校正で10倍の高精度　HIOKIが新計測標準

HIOKI（日置電機）は2026年7月8日、電力計の誤差校正の基準に用いる新たな計測標準を開発したと発表した。新開発の熱量計を用いた手法で、国家計量標準機関で用いられる校正手法を含む従来手法と比べ、約10倍の高い精度を実現したという。

（2026年07月13日）
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ニュース
計測/検査装置
大阪工場に技術教育機能を集約：

リガク、半導体計測装置の実習専用拠点を開設

（2026年07月10日）
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計測/検査装置
EUV露光装置用の光学素子に対応：

「世界最高精度」で曲面ミラーの絶対形状を測定、産総研

（2026年07月08日）
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計測/検査装置
目視検査時間8割削減：

AIサーバ用高密度基板の目視判定をAIで、OKIが新技術

（2026年07月01日）
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計測/検査装置
シリコンフォトニクス分野を強化：

アドバンテスト、光回路設計IPを持つOpenLightと提携

（2026年06月26日）
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計測/検査装置
TRCが表面分析サービスを開始：

半導体デバイス内部における電流の通り道を可視化

（2026年06月22日）
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ニュース
人テク2026,会場レポート,計測/検査装置
AI信頼性確保ソリューションも：

車載ネットワークに「光伝送」の機運　キーサイトが対応オシロ展開

（2026年06月12日）
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計測/検査装置
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ナノ領域で起こる現象を一瞬で撮影：

広い視野で高精細に観察できるX線撮影技術、理研ら

（2026年06月08日）
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計測/検査装置
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半導体SoCテストシステムに搭載：

アドバンテストがシーメンスのサーバ技術採用

（2026年05月19日）
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計測/検査装置
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省エネ情報処理デバイス開発に応用：

DRAMセルの熱とエントロピー、「電子1個単位」で同時測定

（2026年04月30日）
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計測/検査装置
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TEDとアイテスが協業：

SiCデバイスの潜在欠陥、ウエハーレベルで可視化へ

（2026年04月17日）
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企業動向,計測/検査装置
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2027年度上期の開設予定：

アドバンテストが大宮に新拠点　本社とR&Dを結ぶ開発ハブ

（2026年03月27日）
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計測/検査装置
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TRCが総合評価サービス開始：

半導体ウエハーの状態で絶縁膜の電気的特性を評価

（2026年03月24日）
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計測/検査装置
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PHILで効率化：

アンチアイランディング試験を数週間から数時間に短縮、キーサイト

（2026年03月24日）
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計測/検査装置
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L/S 15μm、5μmの2モデル：

歩留まり改善を加速、SCREEN PE初の基板リペア装置

（2026年03月09日）
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企業動向,計測/検査装置
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2月発生インシデント続報：

アドバンテスト、サイバー攻撃の影響は「ほぼ解消」

（2026年03月05日）
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計測/検査装置
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狭ピンピッチや高周波測定に対応：

先端半導体検査用プローブ、タカノが開発

（2026年03月05日）
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計測/検査装置
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専門機関と連携し被害拡大防止：

アドバンテストにランサムウェア攻撃か　影響は調査中

（2026年02月20日）
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SEMICON2025,会場レポート,計測/検査装置
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SEMICON Japan 2025：

L/S 1.5μmでも高精度に一括測定　ニコンの画像測定システム

（2025年12月25日）
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計測/検査装置
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産総研技術を活用：

6Gで活躍期待　日本高周波のミリ波、テラヘルツ波パワーメーター

（2025年12月19日）
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計測/検査装置
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新商品追加でもAI再学習作業が不要：

物流システムの課題解決に向けたAIソリューション、キオクシアが発表

（2025年12月09日）
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プロセス技術,計測/検査装置
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キオクシアが導入決定：

原子1個分以下の精度で計測、リガクの膜厚計測装置

（2025年12月08日）
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計測/検査装置
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開所式を実施：

ローデ・シュワルツが大崎に移転　サービス機能統合でサポート品質向上

（2025年12月05日）
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計測/検査装置
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先端機器の製造で活躍：

100k〜250GHzを1回で測定　キーサイトの高帯域VNA向けエクステンダー

（2025年12月03日）
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計測/検査装置
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プロセスロス低減や歩留まり向上に：

300mmウエハーの全面膜厚を5秒で一括測定、浜松ホトニクス

（2025年12月03日）
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計測/検査装置
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全工程に対応する技術を：

ニデック子会社、中国AI新興と半導体検査技術を共同開発へ

（2025年12月03日）
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計測/検査装置
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次世代通信用光ファイバーを評価：

「業界初」のマルチチャネルファイバーテスターを開発、アンリツ

（2025年12月02日）
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計測/検査装置
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層構造を忠実に反映して解析：

ペロブスカイト太陽電池の受託分析サービスを開始

（2025年11月20日）
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計測/検査装置
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高いテスト効率と拡張性を実現：

SiCやGaNにも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤

（2025年11月06日）
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計測/検査装置
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NVIDIAのML技術を融合：

アドバンテスト、半導体テストにAI技術を活用

（2025年10月09日）

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