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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

ニュース

計測/検査装置

フェムト秒レーザーを半導体に照射：

ウエハー内部のPN接合を非破壊／非接触で評価

岡山大学とライス大学、サムスン電子および日本サムスンによる国際研究グループは、シリコンウエハー内部に浅く形成されたPN接合の深さを、非破壊・非接触で推定できる分析技術を開発した。

（2025年06月30日）

ニュース

デバイス／開発,計測/検査装置

出力0dBm、データレート280Gbps：

高速／高出力の300GHz帯信号生成システムを実現　6G開発に弾み

（2025年06月16日）

ニュース

計測/検査装置

JPCA賞奨励賞：

X線が見逃す実装不良も検出　超精密基板向けインサーキットテスター

（2025年06月16日）

ニュース

AI,計測/検査装置,業務効率化・自動化,製品開発,研究動向

高周波デバイス特性を高精度に測定：

導波路の接続状態をAIで自動判定

（2025年06月16日）

ニュース

計測/検査装置

人とくるまのテクノロジー展 2025：

ADIのデバイスを活用　低コストな自動車製造向け評価ソリューション

（2025年05月30日）

ニュース

計測/検査装置

交流磁気特性を数MHzまで可視化：

ダイヤモンド量子センサーで「パワエレの高効率化」図る

（2025年05月28日）

ニュース

計測/検査装置

校正作業全体で80％の項目を自動化：

東陽テクニカ、EMIレシーバーの校正効率を50％向上

（2025年05月12日）

ニュース

計測/検査装置

1.6Tイーサネット対応のテスターなど：

キーサイトがAIデータセンター向け製品群「KAI」の展開を本格化

（2025年04月21日）

ニュース

M＆A,計測/検査装置

先端材料・半導体分野の事業を強化：

堀場エステック・コリアが韓国EtaMaxを買収

（2025年04月11日）

ニュース

計測/検査装置

THz波の安全性を実験で検証可能に：

高強度テラヘルツ波を連続発生させる装置を開発、福井大とNICT

（2025年03月28日）

ニュース

計測/検査装置

50k～1GHz帯域のSパラを測定：

表面実装パワーデバイスの高周波特性を手軽に計測

（2025年03月25日）

ニュース

計測/検査装置

一般品の2分の1サイズ：

TDKが「業界最小級」品で交流電源に参入、5年後50億円目指す

（2025年03月25日）

ニュース

計測/検査装置

高圧電源内蔵THz波検出器を開発：

テラヘルツ波パルスを室温で高速、高感度で検出が可能に

（2025年03月17日）

ニュース

プロセス技術,計測/検査装置

機械学習を活用し過検出を大幅抑制：

半導体製造で10nm以下の微小欠陥を高感度で検出

（2025年02月27日）

連載

計測/検査装置

福田昭のデバイス通信（487） 2024年度版実装技術ロードマップ（7）：

細胞間や臓器間などで生体情報を伝達する「細胞外小胞」

（2025年02月13日）

ニュース

計測/検査装置

産総研グループと日本ガイシ：

パワー半導体モジュール基板の熱拡散率評価法を検証

（2025年02月03日）

ニュース

計測/検査装置

SiC-MOSFETの温度予測技術を担当：

パワー半導体の劣化を推定　欧州プロジェクトに三菱電機が参画

（2025年01月31日）

ニュース

計測/検査装置

電池から発生する磁場を測定：

その電池、純正ですか？非破壊で識別する手法を開発

（2025年01月27日）

ニュース

SEMICON2024,会場レポート,計測/検査装置

SEMICON Japan 2024：

20GHz対応、6Gを見据える次世代RFテストカード　アドバンテスト

（2025年01月24日）

ニュース

計測/検査装置

粗大粒子から0.1μmサイズまで対応：

微粒子が見える　半導体製造装置に実装可能な小型光源

（2025年01月21日）

ニュース

計測/検査装置

原子間力顕微鏡を用いて観察：

ダイヤモンド表面を原子レベルで可視化　デバイス性能向上に貢献

（2025年01月14日）

ニュース

SEMICON2024,会場レポート,センサー,計測/検査装置

「SEMICON Japan 2024」：

カメラ1台で4波長を取得　ウエハー表面と配線を同時に確認

（2024年12月20日）

ニュース

計測/検査装置

簡単で軽量なポータブル型：

40テスラの磁場を「持ち運ぶ」　装置製作法も公開

（2024年12月03日）

ニュース

計測/検査装置,パワー半導体開発

次世代半導体にも対応：

パワー半導体特化の信頼性評価施設を新設、クオルテック

（2024年12月02日）

特集

計測/検査装置

歩留まりにも直結：

3D統合では正確な半導体検査が必須に

（2024年11月19日）

コラム

計測/検査装置

ATE業界はどう対応するのか：

AI半導体の複雑化でテスト手法に新たな課題

（2024年10月23日）

ニュース

計測/検査装置

経年劣化状態を模擬し事前に評価：

リチウムイオン電池の安全性評価サービスを開始

（2024年10月18日）

ニュース

計測/検査装置

プロセッサとSSD間の伝送線路を評価：

キオクシアら、3次元プロービング技術を開発

（2024年10月04日）

ニュース

計測/検査装置,パワエレ,パワー半導体開発

固有の劣化モードを評価：

SiCパワー半導体の劣化試験サービスを開始、OEG

（2024年09月30日）

ニュース

計測/検査装置

生産性向上や歩留まり改善が可能に：

半導体製造用ワイヤボンディング検査装置を発表

（2024年09月24日）

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