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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

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ニュース
計測/検査装置
感度と速度を両立：

91本の電子線で数十倍速く微小欠陥を検査　日立ハイテク

日立ハイテクは、独ZEISS Semiconductor Manufacturing Technology（以下、ZEISS SMT）と共同で取り組んでいる半導体製造工程向けマルチビーム電子線検査装置の開発体制を強化する。従来の光学式では検出が難しい微小な欠陥を、シングルビーム電子線検査装置の数十倍の速度で検査できる装置の開発を加速する。

（2026年10月06日）
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ニュース
計測/検査装置
7つの解析手法を1台の装置に統合：

先進半導体パッケージの故障解析、浜松ホトニクスが新装置

（2026年10月01日）
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ニュース
電源,計測/検査装置,パワー半導体開発
最大2MHzで試験、時間を75％短縮：

SiC特有の「データシートに載らない劣化」を測定、OKI

（2026年09月29日）
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インタビュー
計測/検査装置,ソフトウェア/設計環境
VI生成に対応、次は「Agent」へ：

「自律化しすぎない」が軸　AIはテストをどこまで担うか

（2026年09月29日）
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ニュース
計測/検査装置
先端技術アライアンス設立：

島津ら研究／分析装置メーカー6社が集結 京大と技術開発

（2026年09月28日）
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インタビュー
企業動向,計測/検査装置
東京エレクトロン デバイス 社長 宮本隆義氏：

商社×メーカーの2つの顔　TED新社長が語る半導体市場と成長戦略

（2026年09月28日）
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ニュース
計測/検査装置
ナノメートルオーダーで化学分析：

半導体配線界面の化学構造変化を直接可視化、TRCら

（2026年09月01日）
ニュース
計測/検査装置
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同じ装置で交流と直流の電流比を測定：

電流比較器にダイヤモンド量子センサーを導入

（2026年08月20日）
まとめ
計測/検査装置
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増収増益は7社中4社：

2027年3月期第1四半期 国内半導体装置メーカー 業績まとめ

（2026年08月19日）
インタビュー
計測/検査装置
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80周年を迎えたTektronix：

「開発部門がなくても存在感を放つ日本」　テクトロニクス日本法人代表

（2026年08月18日）
ニュース
計測/検査装置
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観測区間を部分的に重ねて実現：

ノイズに強く、周波数を正確に推定する方法を開発　群馬大ら

（2026年08月17日）
ニュース
計測/検査装置
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SPM技術を導入し盲領域を解消：

光周波数コムでわずかな動きを捉える3D計測技術、新潟大

（2026年08月10日）
ニュース
計測/検査装置
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先端パッケージの漏れ電流を検出：

AI半導体市場に向け、エスペックが低電圧特化の新評価装置

（2026年08月06日）
ニュース
電源,計測/検査装置
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大面積を非破壊で高速に観察：

酸化ガリウムの結晶内欠陥を3次元的に可視化

（2026年08月04日）
ニュース
テクノフロンティア2026,会場レポート,計測/検査装置
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開発コスト、期間を削減：

車載機器のWi-Fi 6E対応EMC耐性試験を国内で提供、OEG

（2026年07月31日）
ニュース
テクノフロンティア2026,会場レポート,計測/検査装置
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光ファイバーにセンサー搭載：

パワー半導体の「ワイヤー1本」も測定　光プローブ電流センサー

（2026年07月29日）
ニュース
テクノフロンティア2026,会場レポート,計測/検査装置
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PLC連携で製造ラインへの組み込みも：

専用マイクとAIで聴覚官能検査を自動化　最短3秒で異常判定

（2026年07月27日）
ニュース
メモリ,計測/検査装置
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テンダーX線タイコグラフィCT適用：

数百層の3D NAND内部構造を非破壊で観察可能に、東北大

（2026年07月14日）
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計測/検査装置
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パワエレ高度化に対応：

高周波電力校正で10倍の高精度　HIOKIが新計測標準

（2026年07月13日）
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計測/検査装置
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大阪工場に技術教育機能を集約：

リガク、半導体計測装置の実習専用拠点を開設

（2026年07月10日）
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計測/検査装置
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EUV露光装置用の光学素子に対応：

「世界最高精度」で曲面ミラーの絶対形状を測定、産総研

（2026年07月08日）
ニュース
計測/検査装置
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目視検査時間8割削減：

AIサーバ用高密度基板の目視判定をAIで、OKIが新技術

（2026年07月01日）
ニュース
計測/検査装置
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シリコンフォトニクス分野を強化：

アドバンテスト、光回路設計IPを持つOpenLightと提携

（2026年06月26日）
ニュース
計測/検査装置
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TRCが表面分析サービスを開始：

半導体デバイス内部における電流の通り道を可視化

（2026年06月22日）
ニュース
人テク2026,会場レポート,計測/検査装置
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AI信頼性確保ソリューションも：

車載ネットワークに「光伝送」の機運　キーサイトが対応オシロ展開

（2026年06月12日）
ニュース
計測/検査装置
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ナノ領域で起こる現象を一瞬で撮影：

広い視野で高精細に観察できるX線撮影技術、理研ら

（2026年06月08日）
ニュース
計測/検査装置
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半導体SoCテストシステムに搭載：

アドバンテストがシーメンスのサーバ技術採用

（2026年05月19日）
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計測/検査装置
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省エネ情報処理デバイス開発に応用：

DRAMセルの熱とエントロピー、「電子1個単位」で同時測定

（2026年04月30日）
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計測/検査装置
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TEDとアイテスが協業：

SiCデバイスの潜在欠陥、ウエハーレベルで可視化へ

（2026年04月17日）
ニュース
企業動向,計測/検査装置
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2027年度上期の開設予定：

アドバンテストが大宮に新拠点　本社とR&Dを結ぶ開発ハブ

（2026年03月27日）

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