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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

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ニュース
デバイス/開発,計測/検査装置
出力0dBm、データレート280Gbps:

日本電信電話(NTT)とNTTイノベーティブデバイスおよび、Keysight Technologiesは、高速無線通信などに用いられるJ帯フルバンド(220G〜325GHz)をカバーする「増幅器モジュール」と、信号のひずみを高い精度で補償できる「測定システム」を開発した。これらを組み合わせ、300GHz帯で0dBmという高い出力と、280Gビット/秒という高速データレートの信号生成に成功した。

(2025年06月16日)
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ニュース
計測/検査装置
JPCA賞 奨励賞:
(2025年06月16日)
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ニュース
AI,計測/検査装置
高周波デバイス特性を高精度に測定:
(2025年06月16日)
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ニュース
計測/検査装置
人とくるまのテクノロジー展 2025:
(2025年05月30日)
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ニュース
計測/検査装置
交流磁気特性を数MHzまで可視化:
(2025年05月28日)
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ニュース
計測/検査装置
校正作業全体で80%の項目を自動化:
(2025年05月12日)
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ニュース
計測/検査装置
1.6Tイーサネット対応のテスターなど:
(2025年04月21日)
ニュース
M&A,計測/検査装置
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先端材料・半導体分野の事業を強化:
(2025年04月11日)
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計測/検査装置
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THz波の安全性を実験で検証可能に:
(2025年03月28日)
ニュース
計測/検査装置
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50k〜1GHz帯域のSパラを測定:
(2025年03月25日)
ニュース
計測/検査装置
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一般品の2分の1サイズ:
(2025年03月25日)
ニュース
計測/検査装置
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高圧電源内蔵THz波検出器を開発:
(2025年03月17日)
ニュース
プロセス技術,計測/検査装置
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機械学習を活用し過検出を大幅抑制:
(2025年02月27日)
連載
計測/検査装置
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福田昭のデバイス通信(487) 2024年度版実装技術ロードマップ(7):
(2025年02月13日)
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計測/検査装置
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産総研グループと日本ガイシ:
(2025年02月03日)
ニュース
計測/検査装置
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SiC-MOSFETの温度予測技術を担当:
(2025年01月31日)
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計測/検査装置
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電池から発生する磁場を測定:
(2025年01月27日)
ニュース
SEMICON2024,会場レポート,計測/検査装置
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SEMICON Japan 2024:
(2025年01月24日)
ニュース
計測/検査装置
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粗大粒子から0.1μmサイズまで対応:
(2025年01月21日)
ニュース
計測/検査装置
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原子間力顕微鏡を用いて観察:
(2025年01月14日)
ニュース
SEMICON2024,会場レポート,センサー,計測/検査装置
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「SEMICON Japan 2024」:
(2024年12月20日)
ニュース
計測/検査装置
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簡単で軽量なポータブル型:
(2024年12月03日)
ニュース
計測/検査装置,パワー半導体開発
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次世代半導体にも対応:
(2024年12月02日)
特集
計測/検査装置
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歩留まりにも直結:
(2024年11月19日)
コラム
計測/検査装置
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ATE業界はどう対応するのか:
(2024年10月23日)
ニュース
計測/検査装置
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経年劣化状態を模擬し事前に評価:
(2024年10月18日)
ニュース
計測/検査装置
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プロセッサとSSD間の伝送線路を評価:
(2024年10月04日)
ニュース
計測/検査装置,パワエレ,パワー半導体開発
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固有の劣化モードを評価:
(2024年09月30日)
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計測/検査装置
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生産性向上や歩留まり改善が可能に:
(2024年09月24日)
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計測/検査装置
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最大ピーク出力は15W:
(2024年09月19日)

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