EE Times Japan >

テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

ニュース

計測/検査装置

省エネ情報処理デバイス開発に応用：

DRAMセルの熱とエントロピー、「電子1個単位」で同時測定

NTTは、半導体メモリ素子（DRAMセル）における熱とエントロピーを、電子1個単位で同時測定することに世界で初めて成功した。省エネルギー情報処理デバイスや次世代メモリ技術への応用が期待される。

（2026年04月30日）

ニュース

計測/検査装置

TEDとアイテスが協業：

SiCデバイスの潜在欠陥、ウエハーレベルで可視化へ

（2026年04月17日）

ニュース

企業動向,計測/検査装置

2027年度上期の開設予定：

アドバンテストが大宮に新拠点　本社とR&Dを結ぶ開発ハブ

（2026年03月27日）

ニュース

計測/検査装置

TRCが総合評価サービス開始：

半導体ウエハーの状態で絶縁膜の電気的特性を評価

（2026年03月24日）

ニュース

計測/検査装置

PHILで効率化：

アンチアイランディング試験を数週間から数時間に短縮、キーサイト

（2026年03月24日）

ニュース

計測/検査装置

L/S 15μm、5μmの2モデル：

歩留まり改善を加速、SCREEN PE初の基板リペア装置

（2026年03月09日）

ニュース

企業動向,計測/検査装置

2月発生インシデント続報：

アドバンテスト、サイバー攻撃の影響は「ほぼ解消」

（2026年03月05日）

ニュース

計測/検査装置

狭ピンピッチや高周波測定に対応：

先端半導体検査用プローブ、タカノが開発

（2026年03月05日）

ニュース

計測/検査装置

専門機関と連携し被害拡大防止：

アドバンテストにランサムウェア攻撃か　影響は調査中

（2026年02月20日）

ニュース

SEMICON2025,会場レポート,計測/検査装置

SEMICON Japan 2025：

L/S 1.5μmでも高精度に一括測定　ニコンの画像測定システム

（2025年12月25日）

ニュース

計測/検査装置

産総研技術を活用：

6Gで活躍期待　日本高周波のミリ波、テラヘルツ波パワーメーター

（2025年12月19日）

ニュース

計測/検査装置

新商品追加でもAI再学習作業が不要：

物流システムの課題解決に向けたAIソリューション、キオクシアが発表

（2025年12月09日）

ニュース

プロセス技術,計測/検査装置

キオクシアが導入決定：

原子1個分以下の精度で計測、リガクの膜厚計測装置

（2025年12月08日）

ニュース

計測/検査装置

開所式を実施：

ローデ・シュワルツが大崎に移転　サービス機能統合でサポート品質向上

（2025年12月05日）

ニュース

計測/検査装置

先端機器の製造で活躍：

100k～250GHzを1回で測定　キーサイトの高帯域VNA向けエクステンダー

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

プロセスロス低減や歩留まり向上に：

300mmウエハーの全面膜厚を5秒で一括測定、浜松ホトニクス

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

全工程に対応する技術を：

ニデック子会社、中国AI新興と半導体検査技術を共同開発へ

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

次世代通信用光ファイバーを評価：

「業界初」のマルチチャネルファイバーテスターを開発、アンリツ

（2025年12月02日）

ニュース

計測/検査装置

層構造を忠実に反映して解析：

ペロブスカイト太陽電池の受託分析サービスを開始

（2025年11月20日）

ニュース

計測/検査装置

高いテスト効率と拡張性を実現：

SiCやGaNにも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤

（2025年11月06日）

ニュース

計測/検査装置

NVIDIAのML技術を融合：

アドバンテスト、半導体テストにAI技術を活用

（2025年10月09日）

ニュース

計測/検査装置

「IEC 61000-4-2 Ed.3」対応：

解析しながら別データを測定可能　テクトロニクスの新オシロ

（2025年09月29日）

ニュース

計測/検査装置

特定の色系統で良否を100％分類：

AI活用で半導体用研磨フィルムの外観検査を自働化

（2025年09月29日）

ニュース

計測/検査装置

VIの自動生成も視野：

NIのLabVIEW最新版はAI搭載　「AI／データ活用のキープレイヤーになる」

（2025年09月19日）

ニュース

計測/検査装置

次世代自動車部品の開発を支援：

新たな国際規格に対応したEMC試験サービスを開始、OEG

（2025年08月20日）

ニュース

テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置

TECHNO-FRONTIER 2025：

ウエハーの傷にだけ色付けして撮影、検査スピードは数百倍に　東芝

（2025年08月05日）

ニュース

計測/検査装置

超格子構造を非破壊で高精度に解析：

半導体向けX線回析システム、計測時間が100分の1に

（2025年07月31日）

ニュース

テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置

キーサイトが初展示：

EMC試験をとことんラクに、1GHz幅で一気に掃引するEMIレシーバー

（2025年07月24日）

ニュース

組み込みAI応用,計測/検査装置

TDK SenseEIが開発：

超小型部品の欠陥をAIで検出、1分間で2000個を検査

（2025年07月22日）

スポンサーからのお知らせPR

Special ContentsPR

おすすめ技術資料PR

記事ランキング

≫ 11～30位はこちら

Special SitePR

RSSフィード

EE Times Japan

EE Times Japanについて

会員メニュー

公式SNS

Facebook
X

EE Times 海外ネットワーク

海外提携サイト

Electronic Supply & Manufacturing China

ITmediaはアイティメディア株式会社の登録商標です。

テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

省エネ情報処理デバイス開発に応用：

TEDとアイテスが協業：

2027年度上期の開設予定：

TRCが総合評価サービス開始：

PHILで効率化：

L/S 15μm、5μmの2モデル：

2月発生インシデント続報：

狭ピンピッチや高周波測定に対応：

専門機関と連携し被害拡大防止：

SEMICON Japan 2025：

産総研技術を活用：

新商品追加でもAI再学習作業が不要：

キオクシアが導入決定：

開所式を実施：

先端機器の製造で活躍：

プロセスロス低減や歩留まり向上に：

全工程に対応する技術を：

次世代通信用光ファイバーを評価：

層構造を忠実に反映して解析：

高いテスト効率と拡張性を実現：

NVIDIAのML技術を融合：

「IEC 61000-4-2 Ed.3」対応：

「7シリーズDPO」：

特定の色系統で良否を100％分類：

VIの自動生成も視野：

次世代自動車部品の開発を支援：

TECHNO-FRONTIER 2025：

超格子構造を非破壊で高精度に解析：

キーサイトが初展示：

TDK SenseEIが開発：