ニュース 2015年7月3日 SiC/GaNデバイス向けパワーサイクル試験、劣化状況を非破壊で評価（関連情報）：OKIエンジニアリング パワーサイクル試験 [馬本隆綱，EE Times Japan] 記事を見る 記事を見る
