高速NAND向けテストシステムなど、アドバンテストが展示：SEMICON Japan 2018（1/2 ページ）

[村尾麻悠子，EE Times Japan]

　アドバンテストは「SEMICON Japan 2018」（2018年12月12〜14日、東京ビッグサイト）で、同社のテストプラットフォーム向けの新しいモジュールなど、新製品を展示した。

　オートモーティブや産業向けのテストプラットフォーム「V93000」向けの新しいモジュールとしては、2018年5月に発表した「FVI16」がある。16チャンネルを備えたフローティングVI（電圧／電流）ソースモジュールで、250Wのパルス電力と40Wの直流電力を発生できることが特長だ。車載や産業、コンシューマー向けパワーマネジメントICなど、ハイパワーなアナログ／パワーデバイスをテストできる。V93000向けのアナログ／パワーデバイス向けモジュールとしては既存の「AVI64」があるが、こちらは電流が低めでパワーがあまり出せなかった。

ブースに展示している「FVI16」（クリックで拡大）

　さらに、デジタルフィードバックループを採用していることも特長だ。一般的なアナログフィードバックに比べ、オーバーシュートがないのでテスト時間を短縮できるという。スルーレートや帯域設定をユーザーが制御できる機能もあり、使用条件に素早く対応することが可能だ。

　ローエンドの計測システム「EVA100」向けには、2018年11月に発表したばかりのモジュール「HVI」を展示した。HVIモジュールは1000V、2枚のモジュールを接続すれば最大2000Vまで拡張可能だ。これにより、200Vの低電圧パワーMOSFETや600Vの高電圧パワーMOSFETのリーク電流やブレークダウン電圧を高い精度で測定できるようになる。アドバンテストによれば、「SiCパワーデバイスなどの登場を見据えて、最大2000Vまで拡張可能にした」という。

「EVA100」の外観。赤枠で囲んだところが、新しいモジュール「HVI」である。このデモでは、温度をコントロールしながらMOSFETを試験する様子を示している（クリックで拡大）