半導体の前工程プロセスで製造する「シリコンキャパシタ」:福田昭のデバイス通信(460) 2022年度版実装技術ロードマップ(84)(1/2 ページ)
「4.2 基板内蔵部品」のうち、「4.2.2 シリコンキャパシタ」の概要を紹介する。
基板内蔵の要求が強い小型薄型コンデンサ
電子情報技術産業協会(JEITA)が3年ぶりに実装技術ロードマップを更新し、「2022年度版 実装技術ロードマップ」(書籍)を2022年7月に発行した。本コラムではロードマップの策定を担当したJEITA Jisso技術ロードマップ専門委員会の協力を得て、ロードマップの概要を本コラムの第377回からシリーズで紹介している。
第448回からは、第4章「電子部品」の概要説明を始めた。この章は「4.1 SMD部品」と「4.2 基板内蔵部品」「4.3 コネクタ」の3つの節で構成される。前回から、「4.2 基板内蔵部品」の概要を紹介している。基板内蔵部品とは、基板に内蔵することが可能な部品を指す。受動部品の中ではコンデンサへの内蔵化要求が強い。このため「4.2 基板内蔵部品」は基板内蔵が可能なコンデンサ(キャパシタ)である、「4.2.1 薄膜キャパシタ」と「4.2.2 シリコンキャパシタ」で構成される。前回は「4.2.1 薄膜キャパシタ」の概要をご報告した。今回は「4.2.2 シリコンキャパシタ」の概要をご説明する。
シリコンに深い溝を形成して容量密度の高いコンデンサを作る
「シリコンキャパシタ(「シリコンコンデンサ」とも呼ぶ)」は、シリコン半導体のウエハー処理工程(前工程)を使って製造するキャパシタ(コンデンサ)である。前工程では、原理的には2種類のキャパシタを作れる。1つはシリコン表面に導電膜と絶縁膜、導電膜の3層構造を形成する積層型キャパシタ(スタックドキャパシタ)である。積層型キャパシタは、DRAMセルのキャパシタに採用されてきた。
もう1つは、シリコンに深い溝(トレンチ)を掘り、溝の側面と底面に導電膜と絶縁膜、導電膜の3層構造を作り込む溝型キャパシタ(トレンチキャパシタ)である。「シリコンキャパシタ」は通常、トレンチキャパシタ技術で製造する。
「シリコンキャパシタ(シリコンコンデンサ)」の構造例。シリコン(Si)基板(シリコンウエハー)に溝(トレンチ)を掘り、トレンチの側面と底面にn+型Si膜と酸化膜、n+型多結晶膜の3層構造を形成してキャパシタを作る[クリックで拡大] 出所:JEITA Jisso技術ロードマップ専門委員会(2022年7月7日に開催された完成報告会のスライド)
シリコンキャパシタは積層セラミックコンデンサ(MLCC)と比べ、単位面積当たりの静電容量(容量密度)が高い、温度が変化しても静電容量がほとんど変わらない、印加電圧が変化しても静電容量がほとんど変わらない、高周波信号に対する特性変化が少ない、経年劣化が少ない、といった優位性を備える。
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