X線が見逃す実装不良も検出 超精密基板向けインサーキットテスター：JPCA賞 奨励賞

タカヤは「JPCA Show 2025」に出展し、フライングプローブ式インサーキットテスター「APT-2600FD」を紹介した。同製品は「第21回 JPCA賞（アワード）」の奨励賞を受賞したものだ。

[浅井涼，EE Times Japan]

　タカヤは「JPCA Show 2025」（2025年6月4〜6日、東京ビッグサイト）に出展し、フライングプローブ式インサーキットテスター「APT-2600FD」を紹介した。同製品は「第21回 JPCA賞（アワード）」の奨励賞を受賞したものだ。

フライングプローブ式インサーキットテスター「APT-2600FD」［クリックで拡大］

1カ所0.02秒で実装不良を検査

　インサーキットテスターは、プリント回路基板の実装不良を電気的に検出する装置だ。検査対象の基板にプローブを接触させて微小な電圧／電流を印加することで、電子部品と基板との接続信頼性、実装された個々の電子部品の定数、極性などを検査する。実際に測定信号を印加するので、目視検査やX線検査では発見できない不良も検出できることが特徴だ。

　インサーキットテスターには、プローブが埋め込まれた治具を基板に接触させる治具式とプローブを備えたアームが基板上を移動するフライングプローブ式があり、APT-2600FDは後者だ。治具式は基板ごとに専用の治具を用意する必要があるが、フライングプローブ式はプログラムの入れ替えだけで対応できるので、少量生産の製品にはフライングプローブ式が適しているという。

　APT-2600FDは、上面4本／下面2本のプローブを備え、測定スピードは1カ所当たり最短で0.02秒だ。

APT-2600FDを用いた検査の様子

　「自動車や飛行機、医療機器、防衛関係など、特に高い信頼性が要求される分野ではインサーキットテスターは重要だ。試作品の検証や故障品の解析にも使われている」（ブース説明員）

　カメラも搭載していて、遠隔地から検査中の様子を確認できるので、生産ラインの省人化に貢献する。

　JPCA賞の受賞理由は「非常に繊細な超精密基板や、新素材を使用した高機能基板の検査が可能となり、プリント回路基板実装検査の新しい基準を確立したことから、業界に貢献することが期待される」（講評文より）ためだという。