SiCやGaNにも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤：高いテスト効率と拡張性を実現

アドバンテストは、パワー半導体向け統合テストプラットフォーム「MTe（Make Test easy）」を発表した。拡張性に優れたMTeは、自動車や産業機器などに用いられるパワー半導体素子やモジュールの検査／評価を、高い効率で行うことができる。

[馬本隆綱，EE Times Japan]

自動車や産業機器用途のパワー半導体で顧客の初期評価始まる

　アドバンテストは2025年10月、パワー半導体向け統合テストプラットフォーム「MTe（Make Test easy）」を発表した。拡張性に優れたMTeは、自動車や産業機器などに用いられるパワー半導体素子やモジュールの検査／評価を、高い効率で行うことができる。

　MTeは、炭化ケイ素（SiC）や窒化ガリウム（GaN）といったワイドバンドギャップ半導体に加え、IPM（インテリジェントパワーモジュール）やIPD（インテグレーテッドパワーデバイス）にも対応できる。

　また、広帯域キャプチャや高精度のゲートドライバー制御に加え、最大10kAまでの動的試験および短絡試験、柔軟な高電圧デジタル機能を搭載している。搭載した複数のプロセッサで演算処理や通信処理を分散させることで、システム全体の性能も向上させた。ハードウェアはモジュール構造のため拡張性にも優れていて、研究開発レベルから量産レベルまでのテスト工程で、シームレスな移行を可能にした。

　なお、自動車や産業機器用途のパワー半導体分野では、顧客によるMTeの初期評価が始まっており、従来のテスターに比べスループットなどの大幅改善が実証されているという。

MTeの外観［クリックで拡大］ 出所：アドバンテスト