高周波電力校正で10倍の高精度 HIOKIが新計測標準:パワエレ高度化に対応
HIOKI(日置電機)は2026年7月8日、電力計の誤差校正の基準に用いる新たな計測標準を開発したと発表した。新開発の熱量計を用いた手法で、国家計量標準機関で用いられる校正手法を含む従来手法と比べ、約10倍の高い精度を実現したという。
HIOKI(日置電機)は2026年7月8日、電力計の誤差校正の基準に用いる新たな計測標準を開発したと発表した。電力損失が熱として現れる物理現象を利用したもので、同社が新開発した熱量計を用いた手法は、入力皮相電力の0.01%以下の微小発熱を、動作周波数の影響をほぼ受けずに検出できる。
熱的測定で従来手法の約10倍の高精度を実現
電気自動車(EV)のモーターやデータセンター向け電源など、パワーエレクトロニクス技術はより高いスイッチング周波数、より小さなエネルギー損失へと進化している。同時により広い周波数範囲で、より高精度に校正する必要も高まっていて、校正対象の測定器よりも高精度な計測標準が求められている。
従来の電気的な校正手法は、高周波数になるほど校正不確かさが悪化していたが、熱的な測定には周波数の影響を受けにくい特長がある。HIOKIが新開発した熱量計は、周囲温度の変動など外部熱影響を継続的に補正する機構を備えていて、高周波領域でも高い校正確度を維持できる。
この熱量計を使った校正手法によって、200kHzで皮相電力の0.006%、1MHzで0.014%の不確かさを実現。国家計量標準機関で用いられる校正手法(200kHzで不確かさ0.05%)を含む従来手法と比べ、約10倍の高い精度を実現したという。
またHIOKIは「同計測標準を用い、HIOKI製パワーアナライザー『PW8001』と電力センサー『CT6904A』で有効電力測定誤差を校正した結果、200kHzまでの誤差が皮相電力の0.04%以下であることも確認した。従来の計測標準では十分に計測することが困難なほど、高精度の領域だ」としている。
HIOKIは同計測標準を、広帯域電力測定の精度を支える基盤技術として活用する考えだと説明。「高周波性能をトレーサブルな精度で検証できる能力は、顧客の製品開発において大きな競争優位につながる。今後、同技術を用いた校正サービスの展開を計画するとともに、さらに測定技術を高度化し、パワーエレクトロニクス分野の高効率化と信頼性向上に貢献する」(HIOKI)
Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.
関連記事
リガク、半導体計測装置の実習専用拠点を開設
リガクは、半導体計測装置のサービスエンジニアに向けた実機トレーニングを行う拠点として大阪工場内に「リガクソリューションセンター大阪」を開設した。技術教育機能を集約、拡充することでグローバルなサービス体制を強化していく。
「世界最高精度」で曲面ミラーの絶対形状を測定、産総研
産業技術総合研究所(産総研)は、曲面ミラーの絶対形状を非接触かつ2nm精度で計測できる装置を開発した。極端紫外線(EUV)露光装置や放射線施設などで用いられる光学素子の製造や開発、評価といった用途に適用できる。
広い視野で高精細に観察できるX線撮影技術、理研ら
理化学研究所(理研)と大阪大学の研究グループは、ナノメートル領域で一瞬に起こる構造変化などを、広い視野で高精細に捉えることができる「X線撮影技術」を開発した。
100k〜250GHzを1回で測定 キーサイトの高帯域VNA向けエクステンダー
キーサイト・テクノロジーは「マイクロウェーブ展 2025」に出展し、同社の広帯域ベクトルネットワークアナライザー(VNA)「PNA」「PNA-X」向け周波数エクステンダー「NA5305A」「NA5307A」を展示した。100kHzから最大250GHzまで測定可能で、より高く、広い帯域の測定が求められる先端機器の現場で活躍する。
東陽テクニカ、EMIレシーバーの校正効率を50%向上
東陽テクニカは、EMIレシーバーの校正作業を半自動で行うシステムを開発し、運用を始めた。校正作業全体で80%の項目を自動化することで、校正効率を最大50%向上させた。これを機に校正サービス事業のさらなる拡大を目指す。



