直射日光下でも可能、パターン投影での形状計測：外乱光をノイズとして除去（2/2 ページ）

産業技術総合研究所（産総研）は、外乱光をノイズとして除去する画像処理によって、直射日光下でもパターン投影による高速形状計測を行うことに成功した。

[馬本隆綱，EE Times Japan]

外乱光のある環境でも「照度差ステレオ法」

　今回開発した手法は、形状計測のみならず、光源とカメラを組み合わせた、さまざまな画像処理法に適用することが可能である。例えば、カメラ1台と複数の光源を用いて、画像に特定の複数方向から照明した時の光強度と反射率の違いから、画像を復元して形状を計測する「照度差ステレオ法」が、外乱光のある環境でも利用可能となる。カメラとディスプレイで構成するバーチャルリアティシステムなども1つの応用例として挙げた。

外乱光下でも照度差ステレオ法への応用を可能にする 出典：産総研

　さらに、不可視画像の埋め込みにも応用できるという。人間の目に見える可視画像と、目に見えないパターンを同時にディスプレイへ埋め込む。この画像をカメラで撮影して復調すると、可視画像は外乱光として除去される。一方、変調した埋め込み画像が復元され撮影されるという。

映像埋め込みへの応用例 出典：産総研

　産総研は、今回の研究成果について、数年以内に実用化を目指す考えである。