テスト/計測：
テクトロニクスは2015年5月、教育現場での計測器実習の学習効率を高める「計測器ネットワーク管理ソリューション」を発売した。1台のPCから、最大400台の計測器を一元管理できる。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測：
NEDOと高効率モーター用磁性材料技術研究組合（以下、MagHEM）は2015年4月13日、磁気浮上する磁気軸受を採用したモーター損失分析装置など超高効率モーター向け分析装置を開発した。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測 オシロスコープ：
テクトロニクスは、独自の非同期タイムインターリーブ（ATI：Asynchronous Time Interleaving）技術を用いた70GHz帯域のリアルタイムオシロスコープ「DPO70000SX型」を発表した。周波数インターリーブ技術を用いた従来製品に比べて、ノイズを削減しており高品質の信号測定が可能となる。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーは、独自の半導体プロセス技術などを駆使することで、業界最高レベルの測定確度を実現したオシロスコープ「Infiniium Vシリーズ」を発表した。周波数帯域として8GHzから33GHzまでの機種を用意している。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーは、ベクトルネットワークアナライザ「ENAシリーズ」として「E5080A」を発表した。従来製品に比べてダイナミックレンジを広げるなど基本性能を向上させることで、テスト時間を従来の1/10に短縮することが可能となる。また、操作性を高めることができる新たなGUIも採用した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
OKIエンジニアリング（OEG）は、航空・宇宙分野向け半導体部品の「定加速度試験」サービスを2015年2月21日より開始する。最大加速度3万Gの環境下で半導体部品の耐性評価を行うことが可能である。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーは、1/fノイズやランダム・テレグラフノイズ（RTN）を測定/解析するためのシステム「E4727A」の販売を始めた。測定範囲をこれまでより拡大し、高耐圧のパワー半導体や0.03Hzまでの低周波領域におけるノイズ測定を可能とした。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーは、精度の高いパワー測定機能とオシロスコープの波形解析機能を、1つのコンパクトな筐体に収めたマルチタッチ方式パワーアナライザ「Keysight IntegraVision」を発表した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テストプラットフォームだけではない：
計測器メーカーのNational Instruments（ナショナルインスツルメンツ）は、産業用IoTに狙いを定めている。もともと得意分野である状態監視システムだけでなく、機器に実装してスマート化を図る組み込みモジュールの展開にも力を入れる。どんな用途にも同じプラットフォームで対応できることが最大の強みだ。
村尾麻悠子 , EE Times Japan
テスト/計測：
ケースレーインスツルメンツは2015年1月、デジタルマルチメーター（DMM）の新製品として「DMM7510」を発表した。タッチスクリーンのユーザーインタフェースや波形取り込み用のデジタイザなどを新たに搭載した。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーの最新オシロスコープはタッチパネルを搭載し、毎秒100万回の波形更新速度を実現している。特にトリガ機能が大幅に簡素化されていて、指で信号波形を囲むだけで、トリガがかかるようになっている。
村尾麻悠子 , EE Times Japan
テスト/計測：
ローデ・シュワルツ・ジャパンは、広帯域無線機テスタ「R＆S CMW500」を用いて、LTE-Advancedの3帯域キャリアアグリゲーション（3x CA）カテゴリ9のスループット試験を実施した。
EE Times Japan
テスト/計測 モジュール式計測器：
日本ナショナルインスツルメンツ（日本NI）は、5Gなど次世代無線通信システム開発向けソフトウェア「LabVIEW Communications System Design Suite」（以下、LabVIEW Communications）を発表した。次世代無線通信システムの試作/開発期間を大幅に短縮することができる。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
Cloud Testing Serviceは、ICテスターの機能を、クラウド経由でオンデマンドに提供するサービスを手掛けている。スマートフォンのアプリのように、使いたい測定機能を、使いたい分だけインストールして使用する。
村尾麻悠子 , EE Times Japan
テスト/計測 オシロスコープ：
テレダイン・レクロイ・ジャパンは、最大100GHzの帯域と240Gサンプル/秒のサンプルレートを達成したオシロスコープ「LabMaster 10-100Zi」を発表した。次世代の通信システム、広帯域電子部品、基礎科学の研究などにおける信号波形の捕捉/解析用途に向ける。
EE Times Japan
テスト/計測 スペクトラムアナライザ：
テクトロニクスは、USBリアルタイムスペクトラムアナライザ「RSA306」を発表した。RSA306とPCを組み合わせて用いる、「分離型計測器」と同社が呼ぶ新しい概念の測定器で、同等性能の据え置き型製品に比べるとほぼ半分の価格にできるという。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
キーサイト・テクノロジーは、モジュール計測器向けモジュラー製品を発表した。PXIe規格に準拠したベクトルネットワークアナライザ（VNA）と、掃引型スペクトラムシグナルアナライザである。測定コマンドはボックス型と互換性を有し、作業性もほぼ同一の操作環境を実現している。第5世代移動通信システム（5G）向けに機能拡張したAXIe規格準拠の12ビット高速デジタイザも発表した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
NIWeek 2014：
National Instruments（ナショナルインスツルメンツ）の年次テクニカルカンファレンス「NIWeek 2014」（米国・オースチン、2014年8月4〜7日）において、「CompactDAQシリーズ」と「CompactRIOシリーズ」の新製品が発表された。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測 NFC：
ライトポイント・ジャパンは、スマートフォンなどに内蔵されたNFC（近距離無線通信）機能を、生産ラインで試験するための装置「LitePoint IQnfc」を発表した。「生産ライン向けで、NFC物理層の動作データを定量的に測定できるテスト装置は初めて」と、同社は主張する。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
アジレント・テクノロジーは、誘導結合プラズマ発光分光分析計（ICP-OES）と、液体クロマトグラフ質量分析（LC/MS）装置2モデルの新製品を発表した。環境や食品、製薬医療などの分野において、有害物質検出、血液中の薬物特定といった用途に向ける。
馬本隆綱 , MONOist/EE Times Japan
テスト/計測 オシロスコープ：
テレダイン・レクロイ・ジャパンは、アナログ入力8チャネルを備え、垂直分解能が12ビット、周波数帯域が最大1GHzのオシロスコープ「HDO8000」を発表した。太陽光/風力発電システムやHEV/EVシステムの駆動システムなど、高速化する三相パワーエレクトロニクス解析の用途に向ける。
馬本隆綱 , EE Times Japan
NIが新たな製品コンセプトを提唱：
ナショナルインスツルメンツは、計測機器の新たな製品開発コンセプトによる製品開発に着手した。新たな製品開発コンセプトとは、「若手世代のエンジニアでも受け入れられる計測器」だ。若手エンジニアが慣れ親しむデジタル機器の技術要素を積極的に計測器へと展開していく。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測：
アジレント・テクノロジー（以下、アジレント）は、メンテナンス市場向けハンドヘルド型測定器の事業を強化する。この一環として日本アビオニクスと協業し、ハンドヘルド型赤外線サーモグラフィ製品を共同開発した。これとは別に、ハンドヘルド型絶縁抵抗計やリモートリンク製品も発表した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測 テクトロニクス：
ワイヤレス通信向け測定器としてリアルタイムスペアナの役割が高まっている。取り込み帯域幅が広く、間欠的なノイズや頻度の少ない干渉波を取りこぼすことなく検出し、解析することができるからだ。テクトロニクスは、業界に先駆けてリアルタイムスペアナを開発・製品化してきた。新たにIEEE 802.11ac規格のテスト環境なども提供している。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測 アジレント：
ワイヤレス通信市場が最大用途市場となっているアジレント・テクノロジー。長く同市場に注力し続け、あらゆるワイヤレス通信に関するあらゆるニーズに応えられる製品/技術サポート力を築き上げてきた。現在、研究開発、規格化が進む第5世代携帯電話方式や自動車、産業機器といった新たに無線通信応用領域に対しても「総合力」を強みにリーディング企業の地位を狙う。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測 オシロスコープ：
アジレント・テクノロジーは、ミッドレンジに位置付けるポータブルオシロスコープ2シリーズを発表した。新製品は、信号品質に対するオシロスコープ自体の影響を小さくするとともに、信号表示や解析の機能を強化した。極めて高いコストパフォーマンスも実現している。新製品投入でミッドレンジ分野でもシェアアップを図り、遅くとも2015年にはオシロスコープ市場全体でナンバーワンのシェアを獲得するための戦略商品と位置付ける。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
ワイヤレス機器の量産ライン向け試験装置を手掛ける米国のLitePoint（ライトポイント）は、ワイヤレス機器を最大4台まで並列に接続し、さまざまな無線規格に対応した物理層のテストを同時に行えるテスター「IQxel-M」を発表した。同社は「ワイヤレス機器を1台ごと測定する競合製品と比べて、5倍の測定スループットを実現できる」という。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
約4000人が参加したナショナルインスツルメンツ（NI）のテクニカルカンファレンス「NIWeek 2013」は、盛況のうちに幕を閉じた。例年、通信、医療、ロボット、航空/防衛といったさまざまな分野で、NIの製品を用いたデモンストレーションが披露されるが、今回もそれらの中から興味深いものをピックアップして紹介する。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
実験室にこもり、基板や箱型計測器とともにひたすら実験を繰り返す――。こんな学生実験のスタイルが大きく変わるかもしれない。デュアルコアのCortex-A9とFPGAを1チップ化した「Zynq」を搭載した、文庫本サイズの計測/制御機器が登場したのだ。ひらめきが訪れたら、学食でもカフェでもさっと取り出して実験することができるようになる。
村尾麻悠子 , EE Times Japan
テスト/計測：
ケースレーインスツルメンツは2013年8月28日、ユーザーの利便性を追及する新たな製品開発コンセプトを発表し、同コンセプトをベースに開発した第1弾製品として、ソースメジャメントユニット（SMU）「2450型」を発表した。SMUとして「世界初」という静電容量方式タッチパネルを搭載し、「直感的なユーザーインタフェース（UI）であり、初めて新製品を触る人でも、マニュアルなしに5分程度の時間で操作できる」（同社）とする。
竹本達哉 , EE Times Japan
テスト/計測：
今年も「NIWeek 2013」に合わせて新バージョンが発表されたナショナルインスツルメンツ（NI）のシステム開発ソフトウェア「LabVIEW 2013」。新バージョンでは、リアルタイムLinuxをサポートできるようになった他、“使いやすさ”を重視した機能の強化も図られている。LabVIEW 2013の新機能や、LabVIEWが可能にした研究成果や生産効率向上についてリポートする。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
ナショナルインスツルメンツ（NI）は、モジュール式計測/制御用ハードウェア「NI CompactRIO」の新製品を発表した。ARMの「Cortex-A9」とザイリンクスの28nm FPGA「Artix-7」を1チップにしたSoC（System on Chip）を搭載していることから、高速な処理が可能になっている。NIは、「CompactRIOは、組み込み機器の制御に使われているPLC（Programmable Logic Controller）に代わるソリューション」だと提案する。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
NECは、通信ネットワークの通信速度を瞬時に推定できる技術を開発したと発表した。新技術を用いることで、IP電話サービスの品質向上などの効果が期待できるという。
EE Times Japan
テスト/計測：
「次世代のイノベーターのための鼓舞と準備」と題したNIWeek 2013の3日目の基調講演では、次世代のエンジニア育成をサポートするNI製品群が登場。10歳の小学生から高校生、大学生と、企業エンジニアの利用にとどまらないNI製品の幅の広さを見せた。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instruments（NI）のテクニカルカンファレンス／展示会「NIWeek 2013」では、「LabVIEW 2013」とともにいくつかの新製品が発表された。その1つが、データ集録用機器の「NI cDAQ-9188XT」である。広い動作温度と耐振動性、耐衝撃性を備え、エンジニアや科学者の要求に応える製品だ。コンクリート詰めにした同製品をハンマーでたたき割る衝撃を計測するというデモまで披露した。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instrumentsのテクニカルカンファレンス／展示会「NIWeek 2013」がテキサス州オースチンで開幕した。初日の基調講演では「Industrie 4.0」や「Cyber-Physical Systems」といったキーワードを交えながら、一層活躍の場を広げる同社の新製品群が紹介された。
佐々木千之 , EE Times Japan
テスト/計測：
日本ナショナルインスツルメンツ（日本NI）の「PXI」は、ソフトウェアでさまざまな機能を追加できるハイエンド向けの計測器だ。モジュールを必要なだけ付け足していくタイプの計測器で、数チャンネルの小さな計測システムから、数百チャンネルという巨大なシステムまで柔軟に構築できる。
村尾麻悠子 , EE Times Japan
テスト/計測：
関電エネルギーソリューションとオリエントブレインが共同開発したスマートカメラを用いることで、安全監視や画像検査が必要な現場で生じるさまざまな課題に対して、柔軟に対応することが可能となる。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instrumentsは、計測/制御用アプリケーションソフトウェアに向けたグラフィカル開発ツールの最新版「LabVIEW 2012」を、年次のテクニカルイベント「NIWeek 2012」で発表した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
NIが発表したモジュール型RF計測器の新製品は、スタンドアロン型RF計測器を複数台組み合わせて構築するのと同等の機能を備えており、「小型かつ高速で低価格」をうたう。加えて、内蔵FPGAをユーザーが同社のグラフィカル開発ツールを使って手元で書き換え、任意の計測機能を実現できる仕組みも用意した。
薩川格広 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instrumentsは、シャーシ部にIntel製のデュアルコアプロセッサを搭載したデータ集録ハードウェアの新型機を発表した。内蔵のプロセッサ上でWindows EmbeddedもしくはリアルタイムOSを稼働させることが可能だ。従来機で必要だった外部PCが不要になる。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instrumentsが米国のテキサス州オースチンで毎年8月に開催する同社最大のテクニカルイベント「NIWeek」。今週の月曜日に開幕したNIWeek 2012では、展示会場の一角に「ジャパンパビリオン」が設けられ、日本の企業や大学が“日本発”の独自技術を世界に向けて紹介した。
馬本隆綱 , EE Times Japan
テスト/計測：
National Instrumentsのカンファレンス兼展示会「NIWeek 2012」が開幕した。最初の基調講演には同社の創設者でプレジデント兼CEOであるJames Truchard氏が登壇し、「System Design for the 21st Century」というタイトルのプレゼンテーションを通じて、同社のビジョンを語った。
馬本隆綱 , EE Times Japan
TECHNO-FRONTIER 2012 テスト/計測：
日置電機は、各種電池やキャパシタの開発や出荷検査などに向けたインピーダンスアナライザを開発した。8月末までに発売する予定だ。インピーダンス測定の結果から等価回路パラメータを求める解析機能を備えており、電気化学部品の専用モデルも4種類用意した。
薩川格広 , EE Times Japan
テスト/計測：
日本ナショナルインスツルメンツは2012年5月15日に新製品説明会を開催し、同社の「グラフィカルシステム開発」の特徴をあらためて説明した。加えて、XilinxのFPGA製品群「Zynq（ジンク）」やスマートフォン/タブレットPC、クラウドコンピューティングを活用するという最近の取り組みを紹介した。
前川慎光 , EE Times Japan