NIのLabVIEW最新版はAI搭載 「AI／データ活用のキープレイヤーになる」：VIの自動生成も視野（1/2 ページ）

National Instruments（以下、NI）の日本法人である日本ナショナルインスツルメンツ（以下、日本NI）はは2025年9月9日、計測／テスト技術に関するイベント「NI Days Japan 2025」を開催した。計測器／テスト市場のトレンドやNIの戦略、最新製品について、同イベントに登壇したNI 最高技術責任者（CTO）のKevin Schultz氏、NI Vice President & General Manager,Test and Analytics SoftwareのRudy Sengupta氏、日本NI 代表取締役のコラーナ マンディップ シング氏に話を聞いた。

[浅井涼，EE Times Japan]

　National Instruments（以下、NI）の日本法人である日本ナショナルインスツルメンツ（以下、日本NI）はは2025年9月9日、計測／テスト技術に関するイベント「NI Days Japan 2025」を開催。同社やパートナー企業が講演、製品展示を行った。

　NIは世界各地で技術イベントを開催していて、日本でも過去に「NI Days」を毎年開催していた。しかし、2018年を最後に各国単位ではなく地域単位での開催に移行し、アジア地域では中国などが開催地となっていたので、日本でのNI Days開催は約7年ぶりだ。

　計測器／テスト市場のトレンドやNIの戦略、最新製品について、同イベントに登壇したNI 最高技術責任者（CTO）のKevin Schultz氏、NI Vice President & General Manager,Test and Analytics SoftwareのRudy Sengupta氏、日本NI 代表取締役のコラーナ マンディップ シング氏に話を聞いた。

左から日本NI コラーナ マンディップ シング氏、NI Rudy Sengupta氏、NI Kevin Schultz氏［クリックで拡大］

複雑化する開発に「モジュール化」「オープン化」で対応

　Sengupta氏は「計測器の技術トレンドはデータ活用だ」と説明する。「計測とは言い換えればデータを蓄積することだ。取得したデータを開発プロジェクトごと、システムごとに閉じずに、社内全体で統合して活用し、研究開発や生産に役立てることが大きなテーマになる」（同氏）

　NIは既に、データを統合して生産現場で不良品についてのインサイトを提供するような取り組みを進めているという。

　一方、ユーザー側では技術が急速に進展し、設計／開発の複雑さが増している傾向がある。しかし短期間での市場投入が求められることは変わらず、開発期間は伸ばせない。そうした状況で新しい技術を導入するたびにテストシステムを一から構築し直すことは現実的ではないので、フレキシブルに使えるテストシステムが求められているという。

　Schultz氏は「NIはこうしたニーズに対して『モジュール化』『オープン化』で対応している」と説明する。NIは「PXI」などの計測器をシステムとしてではなく、モジュールとして提供している。技術が発展してそれに対応した計測器が必要になった際、丸ごと交換するのではなく一部のモジュール／ソフトウェアを最新のものにすれば対応できるので、コストや手間を削減できる。

　さらに、ソフトウェア／ハードウェアともにオープン化しているのも特徴で、NIのテストシステムをベースにサードパーティーの技術も活用できる。