2012年10月2〜6日の5日間、最先端ITとエレクトロニクスの総合展「CEATEC JAPAN 2012(以下、CEATEC 2012)」が開催される。
CEATEC 2012の開催に先立ち、アイティメディアが運営するエレクトロニクス系3メディア、EE Times Japan、EDN Japan、MONOistではCEATEC 2012の特設ページを設け、各編集部が厳選した注目企業の見どころ情報や新製品リリース、速報、イベントリポートなどを多数紹介していく。
本稿では、“計測器のエコシステム”でさまざまな開発における課題解決を提案する日本ナショナルインスツルメンツ(以下NI)の出展内容を紹介する。
>>3メディア合同「CEATEC JAPAN 2012特集」
NIのCEATEC 2012の展示は、小型ロガーから高周波計測、組み込みまで、全てLabVIEWを中心としたグラフィカルシステム開発アプローチのデモンストレーションがメインだ。
ロガーでは、外部PCが不要なスタンドアロンロガー、コンパクトな振動計測/解析システムを展示。計測関連では、高速・超多チャンネルのオシロスコープや、実験室で現場の電波環境を再現できる電波信号の記録・再生システム、新製品のベクトル信号トランシーバによって従来は難しかったRFパワーアンプの閉ループでの刺激・応答試験スピードを飛躍的に向上させたクローズループ電力補正システム、音源可視化/音源探査リアルタイムシステムを展示する。組み込み向けでは、GPS連動型放射線自動計測システム「KURAMA-II」、ハードウェアHILSを展示する。
これらの展示/デモンストレーションによって、さまざまな現場のテストプラットフォームとして要素技術から最終製品まで活用できるNIのパワフルさを実感してもらう狙いだ。
近年、スマートフォンやEV(電気自動車)、家電においても多機能化や高性能化が進むとともに、新製品開発のスピードが上がるなど複雑化が進む中で、開発現場もそれに対応すべく進化していかなくてはならないという課題を抱えている。NIではこの課題に、従来の手法を一新するグラフィカルシステム開発アプローチを提唱し、開発現場での複雑化するテストに最適なソリューションを提供していくとしている。
会期 | 2012年10月2日(火)〜6日(土) |
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時間 | 10:00〜17:00 |
会場 | 幕張メッセ |
日本ナショナルインスツルメンツ | ブースNo.:6C54 |
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