自動運転向けの故障検出機能、16nmの9コアSoCに：ルネサスが「ISSCC 2016」で発表（1/2 ページ）

ルネサス エレクトロニクスは、自動運転向けの車載コンピューティングシステム用に、ハードウェアの故障を予測・検出する技術を開発した。さらにそれを、16nｍ FinFETプロセスを用いた9コアSoC（System on Chip）に実装し、「ISSCC 2016」でデモを披露した。

[村尾麻悠子，EE Times Japan]

　ルネサス エレクトロニクス（以下、ルネサス）は2016年2月2日、自動運転に用いられる車載コンピューティングシステム向けに、ハードウェアの障害を検出および予測する技術を開発したと発表した。さらに、この技術を用いて、16nm FinFETプロセスを採用したSoC（System on Chip）を開発。米国で開催中の「ISSCC 2016」（2016年1月31日〜2月4日）にて、同SoCを実装したボードを使ったデモを披露した。同SoCは、3種類のコアを合計9個搭載した9コアのCPUと、GPUを搭載している。

今回開発したSoCのダイ写真。TSMCの16nm FinFETプロセスを使用している。コアは、ARMの「Cortex-A57」（動作周波数は2.0GHz）を4コア、「Cortex-A53」（同1.2GHz）を4コア、「Cortex-R7」（同800MHz）を1コア搭載している（クリックで拡大） 出典：ルネサス エレクトロニクス

大規模SoCの安全機構が抱える課題

　自動運転に用いる車載コンピューティングシステム向けの大規模SoCには、カメラやセンサーなどから送られてくる大量のデータを短時間で処理する能力に加え、ハードウェアの障害を検知する安全機構も求められる。安全機構を実現する方法の1つとして、機能の冗長化やセルフテスト機構の搭載などがあるが、大規模SoCでは、その複雑さや高い動作周波数から、機能の冗長化は難しい。さらに、セルフテストを行うには、自動運転に必要な他の機能を長時間停止しなくてはならないので、安全性に問題があった。

セルフテストを行っている間は、通常のプログラムを実行できない（クリックで拡大） 出典：ルネサス

　ルネサスはこれを解決する手段として、新しいセルフテスト機構と、瞬間的な電圧降下によるハードウェア障害を抑止する機構の2つを開発した。