IoT向けデジタルICテスト装置、開発〜量産に対応：SEMICON Japan 2015会場レポート

アドバンテストは、「SEMICON Japan 2015」において、計測システム「EVA100 Digital Solution」を展示した。IoT（モノのインターネット）機器向けデジタルICの開発評価から量産まで、各工程で利用可能な卓上サイズのテスト環境である。

[馬本隆綱，EE Times Japan]

　アドバンテストは、「SEMICON Japan 2015」（2015年12月16〜18日、東京ビッグサイト）において、計測システム「EVA100 Digital Solution」を展示した。IoT（モノのインターネット）機器向けデジタルICやMCUの開発評価から量産まで利用可能なテスト環境を、卓上サイズの小型システムで実現している。

　EVA100は、各種ICやセンサーなどの特性評価や機能評価を行うために必要となるテスト機能を小型ユニットで実現した。すでに販売しているアナログIC/ミックスドシグナルIC向けテスティングユニットの外形寸法は363mm×472mm×206mmである。

　また、独自の開発環境により、プログラミング言語について専門的なスキルがなくても、直観的なGUI操作で計測/評価用のプログラム開発を行うことが可能だという。ICの開発/評価用計測システムに開発したプログラム/測定環境は、テスティングユニットを最大4台まで拡張できる量産向け計測システムと共有することができる。「EVA100は開発/評価と、量産のいずれの試験工程にも利用することが可能である。このため、プログラム開発の負荷を軽減することができ、それぞれの工程で測定したデータの相関をとる手間も省くことができる。こうしたことから、ICの設計完了から量産までの期間を従来の6カ月から、半分の3カ月に短縮することも可能である」（説明員）と話す。

　新たに発表したEVA100 Digital Solutionは、IoT機器などに搭載されるさまざまなデジタルICの設計及び量産時のテストに必要となる機能を実装した計測システムである。波形パターンの生成/出力比較などの計算機能、デジタルコントロール機能、デバイス供給用電源及びアナログ測定機能などを搭載している。

展示したEVA100 Digital Solutionの外観

　デジタルリソースは、テスティングユニット当たり256チャネル（従来のEVA100は32チャネル）に拡大した。テスティングユニットを連結すると最大1024チャネルまで拡張することができる。テスティングユニットの外形寸法は220mm×206mm×472mmとし、従来品に比べて体積は約60％にするなど、一層のスリム化を図っている。必要に応じて、外部に用意した測定器との同期制御も可能である。

　「EVA100 Digital Solutionは、IoT機器などに搭載されるMCUなど少量多品種のICテストに適している。チップ設計を行っているデザインハウスや半導体商社などにおけるIC評価/受け入れ検査、不良解析などにも適した計測システムだ」（説明員）という。2016年夏以降の出荷を予定している。

SEMICON Japan2015（セミコンジャパン 2015）

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