3D NANDフラッシュ製造における重要技術(キープロセス)の一つである「絶縁膜の埋め込み(Isolation Fill)」技術と、「平坦(へいたん)化(Planarization)」技術を紹介する。
半導体メモリ技術に関する国際会議「IMW(International Memory Workshop)」では、カンファレンスの前日に「ショートコース(Short Course)」と呼ぶ1日間のセミナーを開催している。今年(2018年)5月に開催されたIMWのショートコースでは、9件の技術講座(チュートリアル)が午前から午後にかけて実施された。その中から、3D NANDフラッシュメモリ技術に関する講座「Materials, Processes, Equipment Perspectives of 3D NAND Technology and Its Scaling(3D NAND技術とそのスケーリングに関する材料とプロセス、製造装置の展望)」がとても参考になったので、その概要をシリーズでお届けしている。講演者は半導体製造装置の大手ベンダーApplied MaterialsのSean Kang氏である。
なお講演の内容だけでは説明が不十分なところがあるので、本シリーズでは読者の理解を助けるために、講演の内容を適宜、補足している。あらかじめご了承されたい。
前回は、3D NANDフラッシュ製造における重要技術(キープロセス)の一つである、「メモリセルの形成(Cell Formation)」技術を解説した。今回は、同じくキープロセスである「絶縁膜の埋め込み(Isolation Fill)」技術と、「平坦(へいたん)化(Planarization)」技術を紹介する。
本シリーズの第8回と第9回で説明したように、3D NANDフラッシュメモリでは「ステアケース」と呼ぶ階段状のパターンに並んだ制御ゲートと、周辺回路のゲート電極に対して、非常に細くて長いコンタクト電極を形成して最上層の金属配線とゲートを結線する必要がある。
ここでコンタクト用の細くて長い孔を形成する前にしておかなければならないのが、「絶縁膜による埋め込み」である。深さにして5μm前後と、長さにして数mmという深くて広くて複雑な形状(ステアケースとメモリセルのスリット)に、絶縁膜(シリコン酸化膜)を埋め込まなければならない。
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