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超低輝度時の有機EL素子を評価できる測定システム：東陽テクニカ米国子会社が発売

東陽テクニカの米国子会社「TOYOTech」は、シャープディスプレイテクノロジーや北陸先端科学技術大学院大学と共同で、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発した。TOYOTechは2024年10月1日より、DC-JVL測定システム「DCM1000」として販売する。

» 2024年09月18日 09時30分公開

[馬本隆綱，EE Times Japan]

有機EL素子に流れる微小電流と発光強度を同時に測定

　東陽テクニカの米国子会社TOYOTechは2024年9月、シャープディスプレイテクノロジーや北陸先端科学技術大学院大学と共同で、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発したと発表した。TOYOTechは2024年10月1日より、DC-JVL測定システム「DCM1000」として販売する。

　有機EL素子の評価方法としてこれまで、電圧を印加しながら素子に流れる電流と発光輝度を同時に測定していた。ただ、この方法で得られるJ-V-L（電流密度－電圧－輝度）特性では測定装置の問題もあり、素子が光り始める時の微小な電流と低輝度について測定できなかったという。

　そこで今回、有機EL素子に流れる微小電流（変位電流）と、高感度のシリコンフォトダイオードによる発光強度を同時に測定した。そして、急激な電流変化が発生する電圧と発光開始電圧の差を検出し解析した。この測定方式は高輝度での電流、発光強度についても範囲を常に最適化しながら測定が行える。このため、有機EL素子の劣化で発生する表示ムラの解析などにも活用できる。

「DCM1000」の外観［クリックで拡大］出所：TOYOTech

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