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» 2022年04月20日 09時45分 公開

テレダイン・レクロイ、1GHzプローブなどを発売GaN/SiC半導体を高精度で評価

テレダイン・レクロイは、帯域幅が1GHzの高電圧光アイソレーションプローブ「DL-ISO」と「パワーデバイステスト用ソフトウェア」を発売する。これらを12ビット分解能オシロスコープと組み合わせることで、GaN(窒化ガリウム)/SiC(炭化ケイ素)半導体の特性を、高い精度で評価することが可能となる。

[馬本隆綱,EE Times Japan]

12ビット分解能オシロと組み合わせ1.5%の精度を達成

 テレダイン・レクロイは2022年4月、帯域幅が1GHzの高電圧光アイソレーションプローブ「DL-ISO」と「パワーデバイステスト用ソフトウェア」を発売すると発表した。これらを12ビット分解能オシロスコープと組み合わせることで、GaN(窒化ガリウム)やSiC(炭化ケイ素)といったワイドバンドギャップ半導体の特性を、高い精度で評価することが可能となる。

 DL-ISOは1GHzの帯域幅により、立ち上がり時間1ナノ秒の測定が可能となる。サンプリング速度が最大20Gサンプル/秒の12ビット分解能オシロスコープと組み合わせて用いることにより、GaN/SiC半導体の電気特性を、1.5%という極めて高い精度で評価することができるという。

 対応するオシロスコープは、「HDO4000シリーズ」「HDO 6000Bシリーズ」「WaveRunner 8000HDシリーズ」「MDA 8000HDシリーズ」「WavePro HDシリーズ」などである。

12ビット分解能オシロスコープと高電圧光アイソレーションプローブ「DL-ISO」の外観 出所:テレダイン・レクロイ

 パワーデバイステスト用ソフトウェアは、より自動化されたJEDECスイッチング損失およびその他の測定と、関連する測定領域の色分けされたオーバーレイ表示によって、GaNやSiCデバイスの解析が容易になるという。

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