この他、同社のRFテスト製品群を設計/試作工程に展開した事例として、ST-Ericssonが同社のスマートフォン向けRFトランシーバICのファーストシリコンの評価に、National InstrumentsのPXIシステムを採用したという紹介があった。
基調講演では、現在研究開発が進められている次世代の無線通信規格「LTE Advanced」の通信システムを評価するデモもあった(図7)。このデモは、LTE Advancedに準拠したベースバンド処理のアルゴリズムを開発する技術者を意識したものだという。8×8 MIMOに対応した無線通信システムを同社の計測/制御ハードウェアを使って構築し、実際に無線を飛ばして通信状況を評価していた。「一般に販売している汎用品を使ったLTE Advancedの試験は、業界初だ」(同社)と主張する(LTE Advancedについての関連記事)。
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