EE Times Japanの先週(10月30日〜11月5日)のアクセスランキングを紹介します。2011年10月に米カリフォルニア州サンタクララで開催されたARM主催の技術者向けイベント「ARM TechCon 2011」のフォトギャラリーが1位と2位を占めました。3位には、タイの大洪水によってPCの価格や供給に影響が出始めていることをいち早くリポートしたニュース記事がランクインしています。
半導体プロセスの微細化に関するニュースも注目を集めました。第4位のニュース記事では、ARM TechCon 2011の基調講演の内容をもとに、微細化の行く末を論じています。詳しくは、「『半導体微細化、技術的には7nmも可能』、TSMCの開発責任者がARMイベントで言及」をご覧ください。なおこの講演で指摘された、「経済的な制約が微細化の足かせになる」という見解については、半導体製造装置メーカーからも同様の声が上がっています(関連記事その1)
技術面では、半導体プロセスが微細化するにつれ、トランジスタの物性に起因する問題が顕在化し、これまでの延長では、微細化を推し進めることが難しくなってきました。Intelは、「Tri-Gate」と呼ぶ独自の3次元ゲート構造を採用することで、22nm世代への微細化を進めました。この他、強誘電体や磁性体といった新規材料を使って、微細化の壁を乗り越えていこうという研究も進められています(関連記事その2、関連記事その3)。
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