加速度3万Gを加えて評価する航空宇宙向け半導体/部品試験サービスを開始へ：テスト/計測

[馬本隆綱，EE Times Japan]

　OKIエンジニアリング（OEG）は、航空・宇宙分野向け半導体部品の「定加速度試験」サービスを2015年2月21日より開始する。最大加速度3万Gの環境下で半導体部品の耐性評価を行うことが可能である。

　OEGがサービスを開始する定加速度試験は、陸上輸送機や航空機、ロケットなどに搭載される電子部品や半導体製品などが対象となる。これらの部品に対して、各方向へ最大加速度3万Gを加えることで、通常の振動/衝撃試験では発見できない、特殊な環境における部品の構造的/機械的な欠陥を検出しようというもの。例えば、パッケージングや半導体素子のメタライゼーション、リード線の接続強度、半導体チップと基板の付着性などについて、その信頼性や品質を確認することができる。定加速度試験の価格（税別）は1件当たり18万円からとなっている。

　OEGは、これ以外でも「良品解析」や「信頼性環境試験」といったサービスをこれまで提供してきた。良品解析は、部品の状態や欠陥の観察から将来故障に至る危険性を推定するサービスである。信頼性環境試験は、耐熱性や耐寒性、金属非腐食性などの評価/解析を行うサービスである。同社は現行の技術サービスと新たに開始する技術サービスを、組み合わせて提供することも可能であるという。