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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

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ニュース
計測/検査装置
次世代自動車部品の開発を支援：

新たな国際規格に対応したEMC試験サービスを開始、OEG

OKIエンジニアリング（OEG）は、次世代自動車部品に向けた「1000kHz対応磁界イミュニティ試験サービス」を2025年8月19日より始めた。これまで海外の試験所に依頼していた高周波数帯域の磁界イミュニティ試験が国内で行える。このため電装品メーカーは、評価コストの削減や開発期間の短縮が可能となる。

（2025年08月20日）
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ニュース
テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置
TECHNO-FRONTIER 2025：

ウエハーの傷にだけ色付けして撮影、検査スピードは数百倍に　東芝

（2025年08月05日）
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ニュース
計測/検査装置
超格子構造を非破壊で高精度に解析：

半導体向けX線回析システム、計測時間が100分の1に

（2025年07月31日）
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ニュース
テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置
キーサイトが初展示：

EMC試験をとことんラクに、1GHz幅で一気に掃引するEMIレシーバー

（2025年07月24日）
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ニュース
組み込みAI応用,計測/検査装置
TDK SenseEIが開発：

超小型部品の欠陥をAIで検出、1分間で2000個を検査

（2025年07月22日）
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ニュース
企業動向,計測/検査装置
高崎に化学分析拠点を開設：

半導体製造ライン向け化学分析サービスを開始、OEG

（2025年07月08日）
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ニュース
計測/検査装置
フェムト秒レーザーを半導体に照射：

ウエハー内部のPN接合を非破壊／非接触で評価

（2025年06月30日）
ニュース
デバイス／開発,計測/検査装置
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出力0dBm、データレート280Gbps：

高速／高出力の300GHz帯信号生成システムを実現　6G開発に弾み

（2025年06月16日）
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計測/検査装置
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JPCA賞 奨励賞：

X線が見逃す実装不良も検出　超精密基板向けインサーキットテスター

（2025年06月16日）
ニュース
AI,計測/検査装置,業務効率化・自動化,製品開発,研究動向
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高周波デバイス特性を高精度に測定：

導波路の接続状態をAIで自動判定

（2025年06月16日）
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計測/検査装置
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人とくるまのテクノロジー展 2025：

ADIのデバイスを活用　低コストな自動車製造向け評価ソリューション

（2025年05月30日）
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計測/検査装置
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交流磁気特性を数MHzまで可視化：

ダイヤモンド量子センサーで「パワエレの高効率化」図る

（2025年05月28日）
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計測/検査装置
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校正作業全体で80％の項目を自動化：

東陽テクニカ、EMIレシーバーの校正効率を50％向上

（2025年05月12日）
ニュース
計測/検査装置
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1.6Tイーサネット対応のテスターなど：

キーサイトがAIデータセンター向け製品群「KAI」の展開を本格化

（2025年04月21日）
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M＆A,計測/検査装置
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先端材料・半導体分野の事業を強化：

堀場エステック・コリアが韓国EtaMaxを買収

（2025年04月11日）
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計測/検査装置
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THz波の安全性を実験で検証可能に：

高強度テラヘルツ波を連続発生させる装置を開発、福井大とNICT

（2025年03月28日）
ニュース
計測/検査装置
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50k〜1GHz帯域のSパラを測定：

表面実装パワーデバイスの高周波特性を手軽に計測

（2025年03月25日）
ニュース
計測/検査装置
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一般品の2分の1サイズ：

TDKが「業界最小級」品で交流電源に参入、5年後50億円目指す

（2025年03月25日）
ニュース
計測/検査装置
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高圧電源内蔵THz波検出器を開発：

テラヘルツ波パルスを室温で高速、高感度で検出が可能に

（2025年03月17日）
ニュース
プロセス技術,計測/検査装置
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機械学習を活用し過検出を大幅抑制：

半導体製造で10nm以下の微小欠陥を高感度で検出

（2025年02月27日）
連載
計測/検査装置
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福田昭のデバイス通信（487） 2024年度版実装技術ロードマップ（7）：

細胞間や臓器間などで生体情報を伝達する「細胞外小胞」

（2025年02月13日）
ニュース
計測/検査装置
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産総研グループと日本ガイシ：

パワー半導体モジュール基板の熱拡散率評価法を検証

（2025年02月03日）
ニュース
計測/検査装置
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SiC-MOSFETの温度予測技術を担当：

パワー半導体の劣化を推定　欧州プロジェクトに三菱電機が参画

（2025年01月31日）
ニュース
計測/検査装置
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電池から発生する磁場を測定：

その電池、純正ですか？ 非破壊で識別する手法を開発

（2025年01月27日）
ニュース
SEMICON2024,会場レポート,計測/検査装置
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SEMICON Japan 2024：

20GHz対応、6Gを見据える次世代RFテストカード　アドバンテスト

（2025年01月24日）
ニュース
計測/検査装置
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粗大粒子から0.1μmサイズまで対応：

微粒子が見える　半導体製造装置に実装可能な小型光源

（2025年01月21日）
ニュース
計測/検査装置
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原子間力顕微鏡を用いて観察：

ダイヤモンド表面を原子レベルで可視化　デバイス性能向上に貢献

（2025年01月14日）
ニュース
SEMICON2024,会場レポート,センサー,計測/検査装置
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「SEMICON Japan 2024」：

カメラ1台で4波長を取得　ウエハー表面と配線を同時に確認

（2024年12月20日）
ニュース
計測/検査装置
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簡単で軽量なポータブル型：

40テスラの磁場を「持ち運ぶ」　装置製作法も公開

（2024年12月03日）
ニュース
計測/検査装置,パワー半導体開発
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次世代半導体にも対応：

パワー半導体特化の信頼性評価施設を新設、クオルテック

（2024年12月02日）

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