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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

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ニュース
メモリ,計測/検査装置
テンダーX線タイコグラフィCT適用：

数百層の3D NAND内部構造を非破壊で観察可能に、東北大

東北大学は、高アスペクト比エッチングホールの構造を非破壊で3次元（3D）画像として可視化することに成功した。数百層の3D NANDフラッシュメモリ開発などにおいて、その内部構造を非破壊で評価することが可能となる。

（2026年07月14日）
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ニュース
計測/検査装置
パワエレ高度化に対応：

高周波電力校正で10倍の高精度　HIOKIが新計測標準

（2026年07月13日）
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計測/検査装置
大阪工場に技術教育機能を集約：

リガク、半導体計測装置の実習専用拠点を開設

（2026年07月10日）
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計測/検査装置
EUV露光装置用の光学素子に対応：

「世界最高精度」で曲面ミラーの絶対形状を測定、産総研

（2026年07月08日）
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計測/検査装置
目視検査時間8割削減：

AIサーバ用高密度基板の目視判定をAIで、OKIが新技術

（2026年07月01日）
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計測/検査装置
シリコンフォトニクス分野を強化：

アドバンテスト、光回路設計IPを持つOpenLightと提携

（2026年06月26日）
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計測/検査装置
TRCが表面分析サービスを開始：

半導体デバイス内部における電流の通り道を可視化

（2026年06月22日）
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人テク2026,会場レポート,計測/検査装置
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AI信頼性確保ソリューションも：

車載ネットワークに「光伝送」の機運　キーサイトが対応オシロ展開

（2026年06月12日）
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計測/検査装置
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ナノ領域で起こる現象を一瞬で撮影：

広い視野で高精細に観察できるX線撮影技術、理研ら

（2026年06月08日）
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計測/検査装置
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半導体SoCテストシステムに搭載：

アドバンテストがシーメンスのサーバ技術採用

（2026年05月19日）
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計測/検査装置
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省エネ情報処理デバイス開発に応用：

DRAMセルの熱とエントロピー、「電子1個単位」で同時測定

（2026年04月30日）
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計測/検査装置
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TEDとアイテスが協業：

SiCデバイスの潜在欠陥、ウエハーレベルで可視化へ

（2026年04月17日）
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企業動向,計測/検査装置
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2027年度上期の開設予定：

アドバンテストが大宮に新拠点　本社とR&Dを結ぶ開発ハブ

（2026年03月27日）
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計測/検査装置
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TRCが総合評価サービス開始：

半導体ウエハーの状態で絶縁膜の電気的特性を評価

（2026年03月24日）
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計測/検査装置
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PHILで効率化：

アンチアイランディング試験を数週間から数時間に短縮、キーサイト

（2026年03月24日）
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計測/検査装置
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L/S 15μm、5μmの2モデル：

歩留まり改善を加速、SCREEN PE初の基板リペア装置

（2026年03月09日）
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企業動向,計測/検査装置
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2月発生インシデント続報：

アドバンテスト、サイバー攻撃の影響は「ほぼ解消」

（2026年03月05日）
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計測/検査装置
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狭ピンピッチや高周波測定に対応：

先端半導体検査用プローブ、タカノが開発

（2026年03月05日）
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計測/検査装置
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専門機関と連携し被害拡大防止：

アドバンテストにランサムウェア攻撃か　影響は調査中

（2026年02月20日）
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SEMICON2025,会場レポート,計測/検査装置
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SEMICON Japan 2025：

L/S 1.5μmでも高精度に一括測定　ニコンの画像測定システム

（2025年12月25日）
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計測/検査装置
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産総研技術を活用：

6Gで活躍期待　日本高周波のミリ波、テラヘルツ波パワーメーター

（2025年12月19日）
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計測/検査装置
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新商品追加でもAI再学習作業が不要：

物流システムの課題解決に向けたAIソリューション、キオクシアが発表

（2025年12月09日）
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プロセス技術,計測/検査装置
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キオクシアが導入決定：

原子1個分以下の精度で計測、リガクの膜厚計測装置

（2025年12月08日）
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計測/検査装置
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開所式を実施：

ローデ・シュワルツが大崎に移転　サービス機能統合でサポート品質向上

（2025年12月05日）
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計測/検査装置
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先端機器の製造で活躍：

100k〜250GHzを1回で測定　キーサイトの高帯域VNA向けエクステンダー

（2025年12月03日）
ニュース
計測/検査装置
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プロセスロス低減や歩留まり向上に：

300mmウエハーの全面膜厚を5秒で一括測定、浜松ホトニクス

（2025年12月03日）
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計測/検査装置
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全工程に対応する技術を：

ニデック子会社、中国AI新興と半導体検査技術を共同開発へ

（2025年12月03日）
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計測/検査装置
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次世代通信用光ファイバーを評価：

「業界初」のマルチチャネルファイバーテスターを開発、アンリツ

（2025年12月02日）
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計測/検査装置
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層構造を忠実に反映して解析：

ペロブスカイト太陽電池の受託分析サービスを開始

（2025年11月20日）
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計測/検査装置
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高いテスト効率と拡張性を実現：

SiCやGaNにも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤

（2025年11月06日）

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