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テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

ニュース

企業動向,計測/検査装置

2027年度上期の開設予定：

アドバンテストが大宮に新拠点　本社とR&Dを結ぶ開発ハブ

アドバンテストは、新たな研究開発拠点「Omiya Tech Hub」（埼玉県さいたま市）を2027年度上期に開設すると発表した。群馬の開発拠点と東京の本社を結ぶ開発ハブとして機能するという。

（2026年03月27日）

ニュース

計測/検査装置

TRCが総合評価サービス開始：

半導体ウエハーの状態で絶縁膜の電気的特性を評価

（2026年03月24日）

ニュース

計測/検査装置

PHILで効率化：

アンチアイランディング試験を数週間から数時間に短縮、キーサイト

（2026年03月24日）

ニュース

計測/検査装置

L/S 15μm、5μmの2モデル：

歩留まり改善を加速、SCREEN PE初の基板リペア装置

（2026年03月09日）

ニュース

企業動向,計測/検査装置

2月発生インシデント続報：

アドバンテスト、サイバー攻撃の影響は「ほぼ解消」

（2026年03月05日）

ニュース

計測/検査装置

狭ピンピッチや高周波測定に対応：

先端半導体検査用プローブ、タカノが開発

（2026年03月05日）

ニュース

計測/検査装置

専門機関と連携し被害拡大防止：

アドバンテストにランサムウェア攻撃か　影響は調査中

（2026年02月20日）

ニュース

SEMICON2025,会場レポート,計測/検査装置

SEMICON Japan 2025：

L/S 1.5μmでも高精度に一括測定　ニコンの画像測定システム

（2025年12月25日）

ニュース

計測/検査装置

産総研技術を活用：

6Gで活躍期待　日本高周波のミリ波、テラヘルツ波パワーメーター

（2025年12月19日）

ニュース

計測/検査装置

新商品追加でもAI再学習作業が不要：

物流システムの課題解決に向けたAIソリューション、キオクシアが発表

（2025年12月09日）

ニュース

プロセス技術,計測/検査装置

キオクシアが導入決定：

原子1個分以下の精度で計測、リガクの膜厚計測装置

（2025年12月08日）

ニュース

計測/検査装置

開所式を実施：

ローデ・シュワルツが大崎に移転　サービス機能統合でサポート品質向上

（2025年12月05日）

ニュース

計測/検査装置

先端機器の製造で活躍：

100k～250GHzを1回で測定　キーサイトの高帯域VNA向けエクステンダー

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

プロセスロス低減や歩留まり向上に：

300mmウエハーの全面膜厚を5秒で一括測定、浜松ホトニクス

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

全工程に対応する技術を：

ニデック子会社、中国AI新興と半導体検査技術を共同開発へ

（2025年12月03日）

ニュース

計測/検査装置

次世代通信用光ファイバーを評価：

「業界初」のマルチチャネルファイバーテスターを開発、アンリツ

（2025年12月02日）

ニュース

計測/検査装置

層構造を忠実に反映して解析：

ペロブスカイト太陽電池の受託分析サービスを開始

（2025年11月20日）

ニュース

計測/検査装置

高いテスト効率と拡張性を実現：

SiCやGaNにも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤

（2025年11月06日）

ニュース

計測/検査装置

NVIDIAのML技術を融合：

アドバンテスト、半導体テストにAI技術を活用

（2025年10月09日）

ニュース

計測/検査装置

「IEC 61000-4-2 Ed.3」対応：

解析しながら別データを測定可能　テクトロニクスの新オシロ

（2025年09月29日）

ニュース

計測/検査装置

特定の色系統で良否を100％分類：

AI活用で半導体用研磨フィルムの外観検査を自働化

（2025年09月29日）

ニュース

計測/検査装置

VIの自動生成も視野：

NIのLabVIEW最新版はAI搭載　「AI／データ活用のキープレイヤーになる」

（2025年09月19日）

ニュース

計測/検査装置

次世代自動車部品の開発を支援：

新たな国際規格に対応したEMC試験サービスを開始、OEG

（2025年08月20日）

ニュース

テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置

TECHNO-FRONTIER 2025：

ウエハーの傷にだけ色付けして撮影、検査スピードは数百倍に　東芝

（2025年08月05日）

ニュース

計測/検査装置

超格子構造を非破壊で高精度に解析：

半導体向けX線回析システム、計測時間が100分の1に

（2025年07月31日）

ニュース

テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置

キーサイトが初展示：

EMC試験をとことんラクに、1GHz幅で一気に掃引するEMIレシーバー

（2025年07月24日）

ニュース

組み込みAI応用,計測/検査装置

TDK SenseEIが開発：

超小型部品の欠陥をAIで検出、1分間で2000個を検査

（2025年07月22日）

ニュース

企業動向,計測/検査装置

高崎に化学分析拠点を開設：

半導体製造ライン向け化学分析サービスを開始、OEG

（2025年07月08日）

ニュース

計測/検査装置

フェムト秒レーザーを半導体に照射：

ウエハー内部のPN接合を非破壊／非接触で評価

（2025年06月30日）

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PHILで効率化：

L/S 15μm、5μmの2モデル：

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開所式を実施：

先端機器の製造で活躍：

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次世代通信用光ファイバーを評価：

層構造を忠実に反映して解析：

高いテスト効率と拡張性を実現：

NVIDIAのML技術を融合：

「IEC 61000-4-2 Ed.3」対応：

「7シリーズDPO」：

特定の色系統で良否を100％分類：

VIの自動生成も視野：

次世代自動車部品の開発を支援：

TECHNO-FRONTIER 2025：

超格子構造を非破壊で高精度に解析：

キーサイトが初展示：

TDK SenseEIが開発：

高崎に化学分析拠点を開設：

フェムト秒レーザーを半導体に照射：