東芝情報システムは「TECHNO-FRONTIER 2025」に出展し、半導体ウエハーなどの検査装置向けの光学検査技術「OneShotBRDF」を紹介した。肉眼や通常のカメラでは認識困難な細かな傷や凹凸を可視化するものだ。
All material on this site Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved. This site contains articles under license from AspenCore LLC.
ITmediaはアイティメディア株式会社の登録商標です。
メディア一覧 | 公式SNS | 広告案内 | お問い合わせ | プライバシーポリシー | RSS | 運営会社 | 採用情報 | 推奨環境