メディア

テスト/計測

電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。

icon
ニュース
計測/検査装置
NVIDIAのML技術を融合:

アドバンテストの米国地域統括会社であるAdvantest Americaは、ACSリアルタイムデータインフラストラクチャー(ACS RTDI)を、NVIDIAの先進的な機械学習(ML)と組み合わせ、AI主導型のテストシステムに転換していく。

(2025年10月09日)
icon
ニュース
計測/検査装置
「IEC 61000-4-2 Ed.3」対応:
(2025年10月06日)
icon
ニュース
計測/検査装置
「7シリーズDPO」:
(2025年09月29日)
icon
ニュース
計測/検査装置
特定の色系統で良否を100%分類:
(2025年09月29日)
icon
ニュース
計測/検査装置
VIの自動生成も視野:
(2025年09月19日)
icon
ニュース
計測/検査装置
次世代自動車部品の開発を支援:
(2025年08月20日)
icon
ニュース
テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置
TECHNO-FRONTIER 2025:
(2025年08月05日)
ニュース
計測/検査装置
icon
超格子構造を非破壊で高精度に解析:
(2025年07月31日)
ニュース
テクノフロンティア2025,会場レポート,計測/検査装置
icon
キーサイトが初展示:
(2025年07月24日)
ニュース
組み込みAI応用,計測/検査装置
icon
TDK SenseEIが開発:
(2025年07月22日)
ニュース
企業動向,計測/検査装置
icon
高崎に化学分析拠点を開設:
(2025年07月08日)
ニュース
計測/検査装置
icon
フェムト秒レーザーを半導体に照射:
(2025年06月30日)
ニュース
デバイス/開発,計測/検査装置
icon
出力0dBm、データレート280Gbps:
(2025年06月16日)
ニュース
計測/検査装置
icon
JPCA賞 奨励賞:
(2025年06月16日)
ニュース
AI,計測/検査装置,業務効率化・自動化,製品開発,研究動向
icon
高周波デバイス特性を高精度に測定:
(2025年06月16日)
ニュース
計測/検査装置
icon
人とくるまのテクノロジー展 2025:
(2025年05月30日)
ニュース
計測/検査装置
icon
交流磁気特性を数MHzまで可視化:
(2025年05月28日)
ニュース
計測/検査装置
icon
校正作業全体で80%の項目を自動化:
(2025年05月12日)
ニュース
計測/検査装置
icon
1.6Tイーサネット対応のテスターなど:
(2025年04月21日)
ニュース
M&A,計測/検査装置
icon
先端材料・半導体分野の事業を強化:
(2025年04月11日)
ニュース
計測/検査装置
icon
THz波の安全性を実験で検証可能に:
(2025年03月28日)
ニュース
計測/検査装置
icon
50k〜1GHz帯域のSパラを測定:
(2025年03月25日)
ニュース
計測/検査装置
icon
一般品の2分の1サイズ:
(2025年03月25日)
ニュース
計測/検査装置
icon
高圧電源内蔵THz波検出器を開発:
(2025年03月17日)
ニュース
プロセス技術,計測/検査装置
icon
機械学習を活用し過検出を大幅抑制:
(2025年02月27日)
連載
計測/検査装置
icon
福田昭のデバイス通信(487) 2024年度版実装技術ロードマップ(7):
(2025年02月13日)
ニュース
計測/検査装置
icon
産総研グループと日本ガイシ:
(2025年02月03日)
ニュース
計測/検査装置
icon
SiC-MOSFETの温度予測技術を担当:
(2025年01月31日)
ニュース
計測/検査装置
icon
電池から発生する磁場を測定:
(2025年01月27日)
ニュース
SEMICON2024,会場レポート,計測/検査装置
icon
SEMICON Japan 2024:
(2025年01月24日)

RSSフィード

公式SNS

All material on this site Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.
This site contains articles under license from AspenCore LLC.