テスト/計測
電子機器の開発に用いる計測器や検査装置、テスト検査手法に関する話題一覧です。
ニュース
電源,計測/検査装置,パワー半導体開発
最大2MHzで試験、時間を75％短縮：
OKIエンジニアリングは、SiC MOSFET特有の劣化モード「AC-BTI」を評価する試験サービスを強化する。カスタムメイドの新たな試験装置を導入し、評価可能なデバイスや試験条件を拡大したほか、試験時間を従来比最大75％短縮。欧州の車載向け信頼性試験規格「AQG 324」2025年版にも対応する。
（2026年09月29日）
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